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VCU HIL硬件在环测试系统

VCU HIL硬件在环测试系统

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VCU硬件在环仿真测试系统主要为测试VCU的控制算法、功能验证、故障诊断等提供良好的闭环测试环境。通过 HIL 仿真测试系统可以快速开发和验证VCU的控制功能和诊断功能,尽早发现VCU产品在设计和开发过程中存在的各种缺陷,不断完善和提高VCU产品的功能和性能。

通过系统架构图,我们可以看出整个VCU HIL系统主要由以下几大部分构成。在接下来的章节中我们将结合VCU自身的功能特点以及客户的主要测试需求,对系统各部分的测试原理和解决方案逐一展开进行详细的描述。

实时处理器系统,运行模型,验证控制算法;

高速实时I/O,采集或产生各种VCU接口I/O信号;

通信板卡,实时监测CAN网络信号或仿真残余网络节点;

FIU模块模拟产生各种I/O电气故障,以验证VCU的故障诊断功能;

上位机管理软件,提供HMI界面对测试状态进行监控、数据管理、自动测试案例运行和管理等主要功能。

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